Оборудование
Центр колектитвного пользования ЮУ ФНЦ МиГ УрО РАН обладает широкой ресурсной базой
Оптико-эмиссионный спектрометр «Varian 720-ES»
Оптико-эмиссионный спектрометр с возбуждением спектров в индуктивно-связанной аргоновой плазме позволяет получить информацию о количественном элементном составе проб в растворах при изучении металлов и сплавов, почв, геологических материалов, а также продуктов питания.
Управление процессом измерения и обработки выходной информации осуществляется от IBM-совместимого компьютера с помощью специального программного комплекса.
Характеристики:
- спектральный диапазон 177-785 нм;
- пределы обнаружения элементов (по критерию 3σ) – до 10 мкг/дм3;
- относительное среднеквадратичное отклонение выходного сигнала (при концентрации более чем в 100 раз, превышающей предел детектирования) – не более 5 %;
- полный анализ образца – 55 с.
Управление процессом измерения и обработки выходной информации осуществляется от IBM-совместимого компьютера с помощью специального программного комплекса.
Характеристики:
- спектральный диапазон 177-785 нм;
- пределы обнаружения элементов (по критерию 3σ) – до 10 мкг/дм3;
- относительное среднеквадратичное отклонение выходного сигнала (при концентрации более чем в 100 раз, превышающей предел детектирования) – не более 5 %;
- полный анализ образца – 55 с.
Комбинированная мембранная установка серии ДВС-М/1НА(18)-N
Предназначен для получения деионизированной воды с удельным сопротивлением до 18 МОм×см. В комплектацию установки включены 21 обратноосмотических мембранных элемента, что позволять получить деионизированную воду с удельным сопротивлением 18 МОм×см.
Атомно-абсорбционный спектрометр «Perkin Elmer 3110»
Предназначен для анализа элементарного состава материалов широкого спектра назначения (минералы, горные породы, почвы, воды, атмосферные осадки).
Характеристики спектрометра:
- в ЦКП ориентирован на анализ в варианте пламенной атомизации предпочтительно элементов с высокими содержаниями в пробе Ca, Mg, щелочных элементов в эмиссионном режиме (K, Na, Li) и анализ Au и Ag после жидкостной экстракции;
- однолучевая оптическая схема с дейтериевым корректором;
- сенсорное управление процессом анализа;
- идеальный спектрометр для облучения основам атомно-абсорбционного анализа.
Характеристики спектрометра:
- в ЦКП ориентирован на анализ в варианте пламенной атомизации предпочтительно элементов с высокими содержаниями в пробе Ca, Mg, щелочных элементов в эмиссионном режиме (K, Na, Li) и анализ Au и Ag после жидкостной экстракции;
- однолучевая оптическая схема с дейтериевым корректором;
- сенсорное управление процессом анализа;
- идеальный спектрометр для облучения основам атомно-абсорбционного анализа.
Атомно-абсорбционный спектрометр «Analyst 400 (Perkin Elmer)»
Предназначен для анализа элементного состава материалов широкого спектра назначения (минералы, горные породы, почвы, воды, атмосферные осадки).
Характеристики спектрометра:
- в ЦКП ориентирован на анализ в варианте пламенной атомизации предпочтительно гидридообразующих элементов в режиме генерации гидридов и с ртутьгидридной приставкой MHS-15;
- использована двухлучевая система Эшеле;
- четырехламповый держатель со встроенным блоком питания для ламп с полным катодом и безэлектродных с генератором;
- монохроматор с фокусным расстоянием 300 нм, диапазон длин волн от 189 до 900 нм;
- спектральное разрешение 0.12 нм на 200 нм.
Характеристики спектрометра:
- в ЦКП ориентирован на анализ в варианте пламенной атомизации предпочтительно гидридообразующих элементов в режиме генерации гидридов и с ртутьгидридной приставкой MHS-15;
- использована двухлучевая система Эшеле;
- четырехламповый держатель со встроенным блоком питания для ламп с полным катодом и безэлектродных с генератором;
- монохроматор с фокусным расстоянием 300 нм, диапазон длин волн от 189 до 900 нм;
- спектральное разрешение 0.12 нм на 200 нм.
Фотометр фотоэлектрический КФК-3-«ЗОМЗ»
Предназначен для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных жидкостных растворов, а также для определения скорости изменения оптической плотности веществ и концентрации растворов после предварительной градуировки фотометров потребителем.
Фотометр предназначен для применения в сельском хозяйстве, на предприятиях водоснабжения, в металлургической, химической, пищевой промышленности, в лабораториях медицинских учреждений, экологической службе, геологической и других отраслях.
Фотометр предназначен для применения в сельском хозяйстве, на предприятиях водоснабжения, в металлургической, химической, пищевой промышленности, в лабораториях медицинских учреждений, экологической службе, геологической и других отраслях.
Атомно-абсорбционный спектрометр «Analyst 400 (Perkin Elmer)»
Система очистки воды Simplicity
Оборудование для фильтрации и очистки воды.
Особенности системы очистки воды:
- Производит воду первого типа, 18,2 МОм×см;
- Производительность до 0,5 л/мин;
- Проста в установке. Не требует пуско-наладки.
Оборудование для фильтрации и очистки воды.
Особенности системы очистки воды:
- Производит воду первого типа, 18,2 МОм×см;
- Производительность до 0,5 л/мин;
- Проста в установке. Не требует пуско-наладки.
Квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7700x с приставкой лазерной абляции New Wave Research UP-213
Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, совмещенной с лазерной абляцией (ЛА-ИСП-МС) является современным высокочувствительным методом анализа широкого спектра малых и сверхмалых содержаний микроэлементов и их изотопов in situ в природных и искусственных материалах в концентрациях, доходящих до 10-10 мас. %. Ввод пробы в масс-спектрометр осуществляется путем получения аэрозоля из смеси инертного газа и небольшого количества анализируемого вещества, испаренного лазером с поверхности образца. К преимуществу метода относятся простота пробоподготовки: отсутствие необходимости в разложении пробы и как следствие меньшая вероятность ее загрязнения и меньшая стоимость, экспрессность, локальность, высокая чувствительность.
Характеристики лазера:
- твердотельный Nd:YAG-лазер с длиной волны излучения 213 нм,
- рабочий диаметр пятна абляции 25–500 мкм.
- энергия пучка лазера – 0.5–20 Дж/см2
- частота повторения импульсов 1–20 Hz
- несущий газ – He.
Характеристики лазера:
- твердотельный Nd:YAG-лазер с длиной волны излучения 213 нм,
- рабочий диаметр пятна абляции 25–500 мкм.
- энергия пучка лазера – 0.5–20 Дж/см2
- частота повторения импульсов 1–20 Hz
- несущий газ – He.
Инфракрасный Фурье спектрометр «Nicolet-6700» с микроскопом «Continuum (Thermo Scientific)»
Позволяет проводить регистрацию спектров веществ в различных состояниях (порошки, минералов, плоскополированные пластинки и шашки, жидкости, пленки, газы) и осуществлять их идентификацию по базе данных.
Микроскоп «Continuum» имеет два режима регистрации спектров (пропускание, отражение) и позволяет получать спектры с участков размером 50х50 мкм.
Спектрометр оснащен приставкой НПВО (кристалл Ge), температурной ячейкой «Specac» (от -196 ºС до +250 ºС), а также термостоликом «Linkam» (от -196 ºС до +600 ºС).
Характеристики:
- спектральный диапазон: 400-7500 см-1;
- разрешение до 0.1 см-1;
- время регистрации спектра от нескольких секунд.
Микроскоп «Continuum» имеет два режима регистрации спектров (пропускание, отражение) и позволяет получать спектры с участков размером 50х50 мкм.
Спектрометр оснащен приставкой НПВО (кристалл Ge), температурной ячейкой «Specac» (от -196 ºС до +250 ºС), а также термостоликом «Linkam» (от -196 ºС до +600 ºС).
Характеристики:
- спектральный диапазон: 400-7500 см-1;
- разрешение до 0.1 см-1;
- время регистрации спектра от нескольких секунд.
Рамановский спектрометр «iHR320 Horiba Jobin Yvon» с микроскопом «Olympus Bx41»
Предназначен для регистрации спектров комбинационного рассеяния веществ (плоскополированные шашки, отдельные зерна, жидкости).
Данный метод обеспечивает возможность надежного, экспрессного и неразрушающего способа диагностики минералов.
Характеристики:
- спектральный диапазон: 100-4000 см-1;
- He-Ne лазер (632.8 нм);
- Pmax = 20 мВт;
- локальность до 5 мкм.
Данный метод обеспечивает возможность надежного, экспрессного и неразрушающего способа диагностики минералов.
Характеристики:
- спектральный диапазон: 100-4000 см-1;
- He-Ne лазер (632.8 нм);
- Pmax = 20 мВт;
- локальность до 5 мкм.
Растровый электронный микроскоп «Tescan VEGA 3 SBU»
Позволяет исследовать строение и характер поверхности минеральных веществ с высоким оптическим разрешением. Оснащен энергодисперсионным анализатором «INCA X-act» SDD типа для определения качественного и количественного состава веществ.
Характеристика микроскопа:
- ускоряющее напряжение от 0.2 до 30 кВ;
- пространственное разрешение электронно-оптической системы не хуже 305 нм;
- получение изображений во вторичных и отраженных электронах, возможность получать изображение в характеристическом излучении элементов;
- работа в низковакуумном и высоковакуумном режимах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от B до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 133 эВ на линии Mn.
Характеристика микроскопа:
- ускоряющее напряжение от 0.2 до 30 кВ;
- пространственное разрешение электронно-оптической системы не хуже 305 нм;
- получение изображений во вторичных и отраженных электронах, возможность получать изображение в характеристическом излучении элементов;
- работа в низковакуумном и высоковакуумном режимах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от B до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 133 эВ на линии Mn.
Напылительная установка «Quorum Q 150 E ES»
Относится к универсальным устройствам для нанесения покрытия на образец напылением углерода или металлов на поверхности непроводящих образцов для исследования их методов растровой или просвечивающей электронной микроскопии.
Растровый электронный микроскоп «РЭММА-202М» (модернизированный)
Позволяет исследовать строение вещества и характер его поверхности. Оснащен энергодисперсионным анализатором Si(Li) «Link LZ-5» для исследования качественного и количественного определения состава веществ.
Характеристики микроскопа:
- ускоряющее напряжение от 1 до 30 кВ;
- пространственное разрешение электронно-оптической системы 80 нм;
- получение изображений во вторичных и отраженных электронах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от Na до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 150 эВ на линии Mn.
Характеристики микроскопа:
- ускоряющее напряжение от 1 до 30 кВ;
- пространственное разрешение электронно-оптической системы 80 нм;
- получение изображений во вторичных и отраженных электронах.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от Na до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 150 эВ на линии Mn.
Микрозонд «Jeol JCXA 733» (модернизированный)
Позволяет получать микрофотографии вещества и исследовать его элементный состав. Оснащен энергодисперсионным анализатором Si(Li) «Inca Energy 200» и тремя волновыми спектрометрами, установленными при производстве зонда.
Характеристики микрозонда:
- ускоряющее напряжение 1-50 кВ;
- микрозонд снабжен детекторами вторичных, отраженных электронов.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от F до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 138 эВ на линии Mn;
Характеристики волновых спектрометров:
- диапазон определения элементов в настоящее время¬¬ от F до U;
- спектральное разрешение 10 эВ;
- предел обнаружения 0.05 %.
Характеристики микрозонда:
- ускоряющее напряжение 1-50 кВ;
- микрозонд снабжен детекторами вторичных, отраженных электронов.
Характеристики энергодисперсионного анализатора:
- диапазон определения элементов от F до U;
- предел обнаружения 0.1 %;
- спектральное разрешение 138 эВ на линии Mn;
Характеристики волновых спектрометров:
- диапазон определения элементов в настоящее время¬¬ от F до U;
- спектральное разрешение 10 эВ;
- предел обнаружения 0.05 %.
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Bruker M1 MISTRAL
Настольный спектрометр для анализа состава вещества с использованием метода рентгеновской флуоресценции. Спектрометр позволяет проводить неразрушающие измерения в широком диапазоне размеров образцов, что позволяет изучать предметы археологии и музейные образцы, не повреждая их.
Характеристики:
- диапазон измерения элементов от Ti до U;
- ускоряющее напряжение до 50 кВ;
- спектральное разрешение 139 эВ на линии Mn;
- диаметр пучка 0,1-1,5 мм
Характеристики:
- диапазон измерения элементов от Ti до U;
- ускоряющее напряжение до 50 кВ;
- спектральное разрешение 139 эВ на линии Mn;
- диаметр пучка 0,1-1,5 мм
Масс-спектрометр DeltaPlus Advantage производитель Thermo Finnigan, сопряженный с элементным анализатором EA Flash1112 интерфейсом ConFlo III
В лаборатории имеется возможность определения отношений стабильных изотопов азота, углерода, серы и кислорода на масс-спектрометре DeltaPlus Advantage производитель Thermo Finnigan, год выпуска масс-спектрометра 2003. Масс-спектрометр сопряжён с высокотемпературным конвектором EA/TС и элементным анализатором EA Flash1112 интерфейсом ConFlo III. Для исследований используется материалы, которые перетерты. Стандартная масса навески обычно составляет 0,2 мг. После взвешивания и упаковки в тигли пробы помешаются в автосамплер, из которого пробы подаются либо в элементный анализатор EA Flash1112, либо в высокотемпературный конвектор EA/TС. В этих опциях происходит разложение проб до газов CO2, N2, SO2 и CO. Газы потоком гелия через интерфейс ConFlo III подаются в масс-спектрометр, где происходит определение изотопного состава. Для обработки результатов и контроля работы масс-спектрометра используется программное обеспечение Isodat 2.0.
Дифрактометр рентгеновский Shimadzu XRD 6000
Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Порошковый дифрактометр в лаборатории применяется для диагностики предоставляемого материала и количественного фазового анализа.
Область применения:
- определение минерального состава природных и техногенных образцов;
- прецизионное определение параметров элементарной решетки;
- определение степени кристалличности;
- определение размеров кристаллитов (области когерентного рассеяния);
- количественный фазовый анализ методами Ритвельда, постоянных коэффициентов, внутренней добавки, внутреннего эталонирования;
- диагностика глин с применением специальных методик.
Характеристика прибора:
- вертикальный гониометр;
- минимальный шаг сканирования 0.001º;
- рентгеновская трубка Cu «long fine focus»;
- монохроматор;
-вращающийся держатель образцов.
Количественный рентгенофазовый анализ выполняется методом полнопрофильного анализа (Ритвельда) в программном пакете SIROQUANT, версии 4.1, 5.0, разработчик: Sietronics, 40 Hoskins St, Mitchell, ACT 2911, Australia, номер лицензии 11-10419406.
Область применения:
- определение минерального состава природных и техногенных образцов;
- прецизионное определение параметров элементарной решетки;
- определение степени кристалличности;
- определение размеров кристаллитов (области когерентного рассеяния);
- количественный фазовый анализ методами Ритвельда, постоянных коэффициентов, внутренней добавки, внутреннего эталонирования;
- диагностика глин с применением специальных методик.
Характеристика прибора:
- вертикальный гониометр;
- минимальный шаг сканирования 0.001º;
- рентгеновская трубка Cu «long fine focus»;
- монохроматор;
-вращающийся держатель образцов.
Количественный рентгенофазовый анализ выполняется методом полнопрофильного анализа (Ритвельда) в программном пакете SIROQUANT, версии 4.1, 5.0, разработчик: Sietronics, 40 Hoskins St, Mitchell, ACT 2911, Australia, номер лицензии 11-10419406.
Рентгенофлуоресцентный (XRF) анализатор VANTA
XRF-анализатор Vanta представляет собой портативный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр. Предназначен для быстрого полуколичественного элементного анализа от Mg до U. Анализатор Vanta используется для точного анализа химического состава материалов и имеет широкое применение в промышленности: подтверждение марки материала (PMI), анализ сплавов драгоценных металлов, геологическая разведка и горное дело, защита потребителей, переработка лома, экологический мониторинг.
Derivatograph Q-1500 D
Применяется для термогравиметрического анализа материалов. Позволяет для одной пробы одновременно измерять изменения температуры и массы, скорость изменения температуры и изменение энтальпии исследуемого вещества. Дериватографическим анализом могут исследоваться самые разнообразные неорганические и органические материалы: различные соли и оксиды, глины, металлы, сплавы, керамики, минералы, каменный уголь, древесины, полимеры, смолы, канифоли, жиры, масла и т.д.
Микроскоп AxioScope.A1
Универсальный микроскоп AxioScope.A1 предназначен для биологических, медицинских, петрографических, материаловедческих исследований в отраженном и проходящем свете. В наличии 5 объективов (×5, ×10, ×20, ×50 TL, ×100). Есть возможность фотографирования.
Петрографический микроскоп Olimpus BX51
Микроскоп с бинокулярными и тринокулярными насадками. Применяется для микроскопического исследования препаратов в проходящем и отраженном свете.
Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК (дифференциальный интерференционный контраст) Номарского.
Цифровая камера OLYMPUS сопряжена с компьютером для сохранения и обработки изображений. Видео- и фотосъемка высокого разрешения и обеспечивает четкое изображение без искажений в любом из режимов работы.
Объективы с увеличением 5x, 10x, 20x, 50x и 100x.
Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК (дифференциальный интерференционный контраст) Номарского.
Цифровая камера OLYMPUS сопряжена с компьютером для сохранения и обработки изображений. Видео- и фотосъемка высокого разрешения и обеспечивает четкое изображение без искажений в любом из режимов работы.
Объективы с увеличением 5x, 10x, 20x, 50x и 100x.
Микроскоп спектрофотометр МСФ-Р
Предназначен для регистрации спектров зеркального отражения в поляризованном и неполяризованном свете в спектральном диапазоне от 380 до 900 нм.
Микроскоп-спектрофотометр позволяет производить наблюдение, фотографирование объектов в естественном свете, а также производить различную обработку фотометрической информации.
Микроскоп-спектрофотометр позволяет производить наблюдение, фотографирование объектов в естественном свете, а также производить различную обработку фотометрической информации.